Metrolog X4 三坐标测量软件

如果，贵公司的质量检验已经上档次了。可以选择Metrolog X4

为你的3D测量设备买一个真正的性能加速器等等。
Metrolog X4体系结构不仅得益于当前的计算机和操作系统技术，显着地提高了性能和计量软件的吞吐量，而且还简化了日常测量工作流程。


兼容性连接：
支持所有设备
与所有便携式设备兼容
提供100多个设备接口
武器、激光跟踪器和P.O.D.系统
支持所有品牌
多连接
关于测量装置之间的动态切换

高性能：大数据集

    

不再有大量数据的延迟和瓶颈。
未来几年，无论是CAD文件还是光学传感器测量的点云，数据和处理的数量将激增。
Metrolog X4 64位架构使用所有可用的内存和优化，总是推波助澜.无与伦比的性能和无与伦比的易用性。
软件架构提供了两个关键的好处：
导入和处理重型CAD文件。
导入和分析高体积点云而不抽取。

增强界面一个顺利的最终用户体验。

完全定制用户友好的图形界面，以适应操作员的需要，机器类型和测量类型。
新的手动探测向导。
获取过程中的自动视图定位。
多个信息窗口(位置和结果)。
软件随时可用的19种语言，可随时切换。

强化分析 最佳GD&T和报告

Metrolog X4有一个新的几何和尺寸公差处理引擎，用于处理记录时间内最复杂的情况。
几何公差定义方便。
“专家”系统确保正确的评估方法和结果。
对符合既定标准的公差评估的全面支持。
支持ANSI和ISO标准。
经PTB和NIST认证和认可的解决方案组织。

最大性能在点云分析

Metrolog被设计用来处理和分析最大和最密集的点云。
Metrolog集成了有效的光学测量功能所需的最新技术，确保您有最佳的工具，无论您正在使用的设备。
云与CAD(色彩映射)的比较。
元素提取与自动化GD&T.
对冲水和间隙的直观处理。
材料厚度补偿测量。
根据表面毫米面积估算零件质量(面积计算)。

一致性大规模检查

兼容所有大型测量设备，激光跟踪器和移动光学系统。
支持所有现有品牌和型号。
多连接模式可以控制多个。
同时测量所有测量结果的设备(捆绑)。
考虑到仪器和刻度系数(温度变化)。
跟踪和管理原始数据。
高效率零件编程

容易创建完整的零件程序。
在线或线下教学-可提供。
计划文件整合的全过程。
面向操作符的鲁棒指令
车间执行。

最好的报告编辑

强大的报表编辑器允许完整和简单。
定制。
简单易用的界面.
创建适合于客户要求。
自定义任何类型的输出：助手，状态，编辑，从图书馆直接导出等。
导出许多文件格式，如.xls，.csv，.pdf…

以上内容，来自metrolog 官网，浏览器翻译

英文原文网址：https://www.metrologicgroup.com/metrolog-x4/

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