YANCHENT 产品线扩张
Polytec GmbH精密制造的表面的可靠的检测

Polytec 是世界上纳米精度级大面积光学地形测量技术的领先者。这项技术的主要任务是确定平行度、平面度、半径、台阶、角度以及其他参数。待检查区域通常位于下层孔中，或是在高度方面有很大不同。但与其他光学测量方法（如相干干涉法）相比，这对于 Polytec 系统来说是一项简单的任务。而彦辰商贸自然进行了相关资源的紧密合作，并可根据您的需求，进行相关配合工作！

TopMap family 新维度中的表面计量

精密表面的质量检查

为了表征精密制造和其他复杂表面，它需要可靠的测量技术、快速、面向应用。
早期保证功能和检测缺陷可避免不必要的成本，并提高整体产品质量和使用寿命。
Polytec 表面计量应用具有创新、高精度、非接触式光学适用于粗糙、光滑和有台阶的表面的技术。
TopMap 系列的白光干涉仪是专为控制实验室、生产环境或在线使用而设计的质量检测工具。

具有紧密公差的结构化功能表面需要高精度测量系统，可以快速扫描工件的形貌。
完善的白光干涉测量在纳米尺度上实现了分辨率。

广泛的应用
Polytec 的Top Map 表面测量系统在所有需要检测最细致的部件和结构的操作中都在其应用范围。
非接触式白光干涉测量允许在纳米或者亚纳米范围内进行分辨率测量。
正是由于这个原因，Polytec 的TopMap 设备已经成为工业质量控制领域的标准工具。

快速检查制造公差
具有较大的垂直范围和纳米分辨率，Polytec 的TopMap 系统是确定各种材料的大表面和结构的平整度、台阶高度和平行度的理想系统。

TopMap Metro.Lab 紧凑的3D 工作站
Polytec 生产的The TMS-150 TopMapMetro.Lab 是一种高精度白光干涉仪（相干扫描干涉仪），具有较大的垂直测量范围。TopMapMetro.Lab 用于实验室。非常适合于平面度、台阶高度和平行度的非接触测量大的表面和结构，甚至可用于柔软或细腻的材料上。
白光干涉测量的入门级作为一个完整而紧凑的三维测量工作站，TopMap Metro.Lab 允许用户执行大表面和
纳米分辨率的测量。
受益于一个开放的软件架构来编程常规任务或设置您自己的用户界面。

TopMap In.Line 用于生产一体化

TMS-350 TopMap In.Line 完全适合生产中质量保证的需要，当循环时间是决定性的，表面必须精确测量，没有接触的高速。
生产线快速表征TopMap In.Line 的紧凑设计，意味着它可以优雅和安全地集成到生产线上。由于不需要接触物体，避免了光学或部件表面的碰撞和损坏。系统测量形位偏差，如平面度或波纹度，
可靠和短周期时间。由于远心光学设计，即使在深孔与陡峭的边缘，它可以从一个安全的工作距离无接触地精确测量台阶高度。
可自由编程的测量和分析软件可以很容易地适应用户的生产工作流程的需要。测量数据导出到用户数据库，集成的QS-STAT™导出使用户能够可靠地分析过程数据。

TopMap Micro.View® 台式光学表面轮廓

TopMap Micro.View® 是一种易于使用和紧凑的光学轮廓仪。将卓越的性能和可负担性与这种强大的计量解决方案相结合。扩展的100毫米Z测量范围与CST连续扫描技术允许复杂的拓扑形貌测量在nm分辨率。这种方便的台式设置功能集成电子，智能聚焦点查找器简化和加快了测量过程。
小足迹，扩展能力
受益于可选的ECT 环境补偿技术，确保可靠和准确的测量结果，即使在嘈杂和具有挑战性的生产环境。微型。Micro.View® 是在制造和研究领域中用于检测精密工程表面的成本-效率-质量控制的仪器。

TopMap Micro.View®+下一代光学表面轮廓

TopMap Micro.View®+ 是下一代光学表面轮廓仪。该组合式工作站为模块化设计，可用户定制和应用于特定的配置。
Micro.View®+ 提供最详细的分析表面粗糙度，纹理和微观结构形貌。将三维数据与颜色信息结合起来，进行惊人的可视化和扩展的分析，就像缺陷的详细文档一样。高分辨率的5 百万像素像机提供了难以置信的详细的三维数据可视化工程表面。
能用于自动化和生产准备
编码和镜头旋转装置确保了镜头之间的无缝过渡。Micro.View®+ 还具有最新的聚焦点查找器加焦点跟踪器，保持表面在任何情况下的焦点。完全机动的样品定位阶段允许缝合和自动定位。

TopMap Pro.Surf 表面专家

The TMS-500TopMap Pro.Surf 快速、可靠、准确地确定形状偏差。TopMap Pro.Surf 白光干涉仪是精确制造表面的非接触表面形貌测量的理想解决方案-。可用于计量实验室、生产线附近，甚至在线，由于坚固的设计和高水平重复性。
用于精密制造表面的可靠检查
其高的垂直和横向分辨率、远心光学设计和高的测量速度开辟了许多应用领域。在一个大的44x33mm² 测量表面上测取200 万个测量点，在几秒钟内无需缝合-而且表面积甚至可以扩展到230x220mm²。
具有70 毫米的垂直测量范围和良好的垂直分辨率，有足够的余地来改变测量任务。远程中心光学甚至测量难以到达的区域，如：深孔。集成的机器视觉工具加快了您的质量控制过程。同时检测几个样品，而不需要机械固定。

TopMap Pro.Surf+一体系统

The TMS-500-R TopMap Pro.Surf+方便地确定在一个单一系统中形成偏差和粗糙度-快速、可靠和精确。
高端系统TopMap Pro.Surf 的升级是一个一体的解决方案-感谢集成的粗糙度传感器。
组合测量形式偏差加粗糙度
TopMap Pro.Surf+ 提供了一种强大的多传感器解决方案，通过精确地确定表面台阶高度、平行度和粗糙度参数等形位参数来表征表面形貌。除了它的智能多传感器概念，用户将受益于高垂直和横向分辨率的仪器，从其远心光
学设计和非常快速的测量。两百万个测量点记录在一个大的43×32mm²测量表面上，在几秒钟内不需要缝合-而且表面积甚至可以扩展到230×220mm²。
集成的机器视觉工具加快了您的质量控制过程。用单个测量检测几个样品，而不需要机械固定。

具体更多产品联合及介绍，欢迎致电13969699395或者发送您的需求至83186668@qq.com