TopMap Micro.View 台式光学表面轮廓仪

TopMap Micro.View 台式光学表面轮廓仪是易于使用且紧凑的光学轮廓仪。

 结合卓越的性能及实惠价格并具有强大的计量解决方案并。

 Micro.View的垂直测量范围可扩展到100 毫米和CST连续扫描技术，可在纳米分辨率下测量复杂的形貌。

 这种便捷的桌面设置具有集成的电子设备，并带有智能聚焦查找器，可简化并加快测量过程。

亮点
1.在紧凑的装置中测量表面光洁度
2.非接触式3D地形，粗糙度和纹理的测量
3.采用CST连续扫描技术可达到100毫米垂直测量范围
4.高超的横向分辨率
5.可从特定于应用程序中选择

面积小但具有功能扩展
受益于可选的ECT环境补偿技术，即使在嘈杂和充满挑战的生产环境中，也能确保可靠和准确的测量结果。
Micro.View是一种经济有效的质量控制仪器，用于在制造和研究中检查精密的工程表面。
TopMap Micro.View是您可以信赖的精密测量技术。
相信我们的经验，相信我们的专业知识，相信我们的专家。