TopMap Metro.Lab 从简单的3D光学表面分析系统开始

从简单的3D光学表面分析系统开始
Polytec 的 TopMap Metro.Lab 是一种高精度白光干涉仪（相干扫描干涉仪），具有大的垂直范围和纳米分辨率。这意味着 Metro.Lab 外形测量系统非常适合非接触式测量大面积表面和结构，甚至是柔软和精密材料的平面度、台阶高度和平行度。
作为一个完整的测量站，TopMap Metro.Lab 是您想要测量几乎所有表面上的大面积外形的最佳解决方案。即使在困难条件下，70mm 的大垂直测量范围也允许您使用亚纳米分辨率进行测量。
由于 TopMap Metro.Lab 物超所值，无论是用于计量实验室或是靠近生产现场的地方，都非常具有吸引力。它可以处理许多您以前使用触觉系统进行处理的任务。与所有 TopMap 系统一样，开放式的软件架构还允许您编制常规任务或设置自己的用户界面。

亮点
1.由于光学干涉测量原理，它属于非接触式
2.远心镜头让测量陡峭部分（例如钻孔）成为可能
3.70 mm 的范围，非常灵活
4.快速测量大面积
5.增强版的大面积测量范围可达约 80 x 80 毫米
6.易于使用的自动化软件，生成 DIN / ISO 合规性参数
7.具有智能表面扫描功能，适用于几乎所有表面，即使是那些具有参差不齐反射率的表面
8.可集成在防尘防振工作站中，用于机器大厅

由于TopMap Metro.Lab具有极高的性价比，因此在从计量实验室到接近生产的所有地点使用时都特别有吸引力。TopMap Metro.Lab允许比传统的触觉测量法更全面的表面分析。与所有TopMap系统一样，开放的软件架构也使您能够对常规任务进行编程或设置您自己的用户界面。