TopMap Micro.View+新一代光学表面轮廓仪

TopMap Micro.View+ 是新一代光学表面轮廓仪。 该模块化工作站专为模块化设计，可进行定制和特定于应用的配置。

 MICRO.VIEW +提供了最详细的表面粗糙度，纹理和微观结构形貌分析。 结合3D数据和颜色信息结合起来，实现惊人的可视化和扩展分析，如缺陷的详细文档。

 高分辨率500万像素相机提供了令人难以置信的工程表面3D数据可视化。

TopMap Micro.View是您可以信赖的精密测量技术。

相信我们的经验，相信我们的专业知识，相信我们的专家。

亮点
1.纳米级分辨率的高端白光干涉仪
2.采用CST连续扫描技术可达到100毫米垂直测量范围
3.配有自动“对焦仪”和“对焦跟踪器”进行自动化
4.电动X，Y，Z，倾斜调平台和转塔无需再重新定位
5.用于缺陷扩展分析和文档记录的颜色信息模式
6.模块化，特定于应用程序的配置

启用自动化且可投入生产线

编码和电动转塔确保了物镜之间的无缝过渡。 Micro.View+ 采用最新的“对焦仪”和“焦点追踪器”，使表面在任何情况下都保持聚焦。 采用全电动的样品定位台可实现缝合和自动化。